KATY Electronic Technology Co., LTD - Pinzas de circuito integrado - Cables de prueba - página 9 - Fuente original de productos

N.º de Parte del Fabricante	Disponibilidad	Precio	Cantidad	Hoja de Datos	Serie	Embalaje	Estado del producto	Tipo	Número de posiciones o clavijas (cuadrícula)	Acabado de contacto	Material de contacto
6107 TEST CLIP SOIC 32 (2 X 16) Pomona Electronics	3,037	-	RFQ	Tabla de datos	SOIC Clip®	Bulk	Obsolete	SOIC, 0.30 to 0.60" Wide	32 (2 x 16)	Gold	-
6108 TEST CLIP SOIC 40 (2 X 20) Pomona Electronics	3,674	-	RFQ	Tabla de datos	SOIC Clip®	Bulk	Obsolete	SOIC, 0.30 to 0.60" Wide	40 (2 x 20)	Gold	-
6151 TEST CLIP QFP 144 (13 X 13) Pomona Electronics	4,258	-	RFQ	-	6151	-	Obsolete	QFP, 0.50mm Pitch	144 (13 x 13)	Gold	-
6152 TEST CLIP QFP 176 (14 X 14) Pomona Electronics	2,266	-	RFQ	-	6152	-	Obsolete	QFP, 0.50mm Pitch	176 (14 x 14)	Gold	-
5214 TEST CLIP DIP 14 (2 X 7) Pomona Electronics	2,560	-	RFQ	Tabla de datos	DIP Clip®	-	Obsolete	DIP, Standard	14 (2 x 7)	Gold	Beryllium Copper
5220 TEST CLIP DIP 20 (2 X 10) Pomona Electronics	4,002	-	RFQ	Tabla de datos	DIP Clip®	Bulk	Obsolete	DIP, Open Back	20 (2 x 10)	Gold	Beryllium Copper
5224 TEST CLIP DIP 24 (2 X 12) Pomona Electronics	4,328	-	RFQ	Tabla de datos	DIP Clip®	-	Obsolete	DIP, Open Back	24 (2 x 12)	Gold	Beryllium Copper
5240 TEST CLIP DIP 40 (2 X 20) Pomona Electronics	4,634	-	RFQ	Tabla de datos	DIP Clip®	-	Obsolete	DIP, Open Back	40 (2 x 20)	Gold	Beryllium Copper
6109 TEST CLIP SOIC 44 (2 X 22) Pomona Electronics	2,186	-	RFQ	Tabla de datos	SOIC Clip®	Bulk	Obsolete	SOIC, 0.30 to 0.60" Wide	44 (2 x 22)	Gold	-
6150 TEST CLIP QFP 100 (11 X 11) Pomona Electronics	4,031	-	RFQ	-	6150	-	Obsolete	QFP, 0.50mm Pitch	100 (11 x 11)	Gold	-
923884-40-I TEST CLIP DIP 40 (2 X 20) 3M	2,595	-	RFQ	Tabla de datos	923	Bulk	Active	DIP with Cable Assembly	40 (2 x 20)	-	Nickel Silver
923884-20-I TEST CLIP DIP 20 (2 X 10) 3M	4,883	-	RFQ	-	923	Bulk	Active	DIP with Cable Assembly	20 (2 x 10)	-	Nickel Silver

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